根據(jù)許多二維測量儀器制造商的介紹，在各種制造公司中，有兩種主要的方法使用元計來測量角度。一種方法是通過切線方法開始測量產(chǎn)品角度參數(shù)。這種方法比較容易操作。但是，與可以讀取的角度測量方法相比，測量精度相對較低。手動將其在第二個元素測量儀器的屏幕和鏡片上的刻線上扭曲。光柵技術(shù)可以完成工件角度的測量。

二維測量儀器相對適合需要精確角度的批量測量。另一種方法是通過點計算方法開始測量。如果研究過幾何的任何人都知道所有幾何元素都是由點組成的，而拐角是由交錯線組成的，那么離開上角也是由點組成的。因此，角度測量的精度實際上與該點相同。在測量儀器的測量角度，如果根據(jù)采樣點的計算開始測量，通常會獲得更準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

值得一提的是，二維測量儀器的切線測量角度法可分為投影切線法和圖像切線法，而圖像切線法是測量儀器常用的批量精度測量法。