從測(cè)量原理上說(shuō),三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)直接測(cè)得的是被測(cè)工件上一些特征點(diǎn)的坐標(biāo)位置,需要通過(guò)軟件運(yùn)算才能獲得被測(cè)參數(shù)的值,因此被測(cè)參數(shù)的測(cè)量精度主要與下列因素有關(guān):
① 測(cè)量機(jī)的系統(tǒng)誤差
②測(cè)頭系統(tǒng)誤差
③工件形狀誤差
④算法計(jì)算誤差
⑤ 環(huán)境因素的影響
采點(diǎn)方法:
采樣方法研究的如何在物體表面進(jìn)行采點(diǎn),采集多少點(diǎn)較為合理,且使檢測(cè)誤差達(dá)到較小。所謂合理是指在同一臺(tái)測(cè)量機(jī)上,在相同的環(huán)境下,測(cè)量同一個(gè)零件,怎樣安排測(cè)量點(diǎn)的位置和測(cè)量點(diǎn)數(shù),可以獲得較高的測(cè)量精度,且耗費(fèi)的時(shí)間比較經(jīng)濟(jì)。
①采樣點(diǎn)數(shù)和采樣位置影響測(cè)量結(jié)果;
②測(cè)量元素非理想元素,有形狀誤差;
③測(cè)量機(jī)采點(diǎn)及計(jì)算方法的局限性,存在測(cè)量誤差。
上一條: 什么是二次元投影儀放大倍率